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含銅鈉矽酸鹽玻璃表面的X射線光電子能譜(XPS)研究
含氧化銅，鈉矽酸鹽玻璃的組成（(0.70- x)SiO2-0.30Na20-xCuO (x 範圍 0-0.2)以傳統熔融和澆鑄方法製備，表面的結構利用XPS來分析，結果顯示X<0.14玻璃中 為Cu+狀態，而在x =0.18時的玻璃為兩種氧化態狀態（Cu+和Cu2 +），這是從Cu 2p的核心的能階圖譜的衛星結構“震動” 所獲得。進行一反迴旋程序，以定量以測定Cu+2 / [Cutotal]比值。從O 1S核心層階能譜的反迴旋可得到，非架橋的氧含量隨氧化銅的含量增加而增加，銅為玻璃網絡修飾劑(glass modifier)。O 1S能譜的模擬是從非架橋氧的能譜信號中分離出SiOCu和SiONa2的強度貢獻。
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